标准测试插座

低成本,高性能,芯片量产测试标准插座

产品优势

  • 显著的接触电阻稳定性

  • 超长的生产使用寿命

  • 标准化设计,简单耐用,成本最优

  • 适用所有封装类型

  • 精准的产品定位方式

  • 适用于手测,机测,老化等多种测试方式

  • 最短的产品设计,生产周期

CAPTAN标准测试插座



FTD标准最优设计与标准材质,提供最优的测试性能
WLCSP,BGA,QFN,QFP多种封装
0.35mm引脚间距 
优化的定位框设计
出色的接触电阻和电流承受能力
三温测试能力(-55℃-150℃)

封装类型

球阵列封装 BGA,LGA,WCSP,其他0.35mm及以上引脚间距

引脚类封装:QFP,SO,其他0.35mm及以上引脚间距

无引脚封装:QFN,其他0.35mm及以上引脚间

材料

Socket材料:Vespel SP-1, Plavis-N,MDS-100,and Peek ceramic,其它客户指定的工程塑料

弹簧探针头材料:合金,金及其他

弹簧材料:弹簧钢及其他

机械性能

产品引脚间距0.35mm及以上

探针弹力:15g-40g

测试行程:0.3mm-0.65mm

可靠性

探针使用寿命:500K-1KK

测试插座使用寿命:>5KK

清洁频率:50K-100K

电性能

接触电阻:50mΩ

电流承载能力:5A持续电流

频宽:>20GHZ@-1dB

电感:1.2nH

环境

温度范围:-55℃-150℃