低成本，高性能老化测试标准插座
老化插座:
28 family Size 28x38mm
3S family Size 38x48mm
55 family Size 55x65mm
适用产品尺寸:
0.35mm(19x19 contact max)
0.40mm(16x16 contact max)
0.50mm(10x10 contact max)
0.65mm(32x32 contact max)
BGA/QFN(LGA)
FTD标准老化系列插座。采用注塑与加工相结合的结构，具有良好的使用寿命和可靠性同时又较低客户的采购成本。
-适用Pogo PIN作为接触部件
-支持高频芯片测试
-很好的热传导性能与可靠性
-出色的接触电阻和电流承受能力
● 球阵列封装s：BGA, LGA, WLCSP, others – 350 µm pitch and up
● 引脚类封装： QFP, SO, others – 350 µm pitch and up
● 无引脚封装： QFN, others – 350 µm pitch and up
● 产品引脚间距： 0.4mm 及以上
● 探针弹力： 15g -40g
● 测试行程：0.3mm -0.65mm
● 探针使用寿命：200K
● 测试插座使用寿命： 5000小时
● 清洁频率：50K
● socket材料： 工程塑料
● 弹簧探针头材料： 合金
● 弹簧材料： 弹簧钢
● 接触电阻：100mΩ
● 电流承载能力：1.0A 持续电流
● 介电强度能力 : AC100V rms 1 min
● 绝缘电阻能力 : 1000MΩ min
● 温度范围: -55°C - 150°C
